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专利摘要:
公开号:WO1987004847A1 申请号:PCT/JP1987/000068 申请日:1987-02-03 公开日:1987-08-13 发明作者:Junji Ono 申请人:Sony Corporation; IPC主号:G11B20-00
专利说明:
[0001] 明 細 書 [0002] ディ スク状記録媒体の欠陥検出装置 技 術 分 野 [0003] この発明は、 ディ スク状記録媒体に形成された螺旋状の記録 ト ラ ックから情報信号を読み取るに際し、 ディ スク状記録媒体が有 する欠陥部が読取位置におかれる状態に応じて欠陥検出信号を発 生する、 ディ スク状記録媒体の欠陥部を検出する装置に関する。 [0004] 背 景 技 術 ' . [0005] 光学デイ ジタル . オーディ オ ' ディ スクの如く の光学式のディ ス クにおいては、 情報信号が、 例えば、 ピッ トの配列による螺旋 状 ト ラ ックが形成されて記録されている。 そして、 斯かるディ ス クからの情報信号の再生をなすデイ スクプレーヤにおいては、 デ イ スクが回転せしめられ、 その半径方向に移動する光学へッ ドか らの光ビームにより、 ディ スクに形成された螺旋状トラ ックに対 する走査が行われて、 螺旋状 ト ラ ックに記録された情報信号が読 み取られるが、 その際、 光学へッ ドからの光ビームが螺旋状 トラ ックに正し く到達するとともに適正に集束するものとなることが 要求される。 そのため、 光学へッ ドからの光ビームがディ スクに おいて形成するスポッ トの螺旋状 ト ラ ックに対する位置ずれを検 出し、 その検出出力に基づいて、 検出された位置ずれを無くすベ く 、 光学へッ ドの全体あるいは光学へッ ドにおける集束レ ンズ等 の部材をディ ス ク の半径方向に移動せしめる ト ラ ッキング · サー ボコ ン ト ロ ール、 及び、 光学へッ ドからの光ビームの、 ディ スク における螺旋状 ト ラ ックが形成された記録面部上での集束状態を 検出し、 その検出出力に基づいて、 光学へッ ドからの光ビームの 記録面部上での集束状態を適正なものとすべく、 光学へッ ドの全 体あるいは光学ヘッ ドにおける集束レンズ等の部材をディ スクの 回転軸方向に移動せしめるフォ ーカス · サーボコ ン トロールが行 われる。 [0006] 斯かる ト ラ ッキング ' サーボコ ン ト ロールが行われるに際して の、 光学へッ ドからの光ビームがディ スクにおいて形成するスポ ッ トの螺旋状 トラ ックに対する位置ずれに関する検出出力、 即ち、 ト ラ ッキング . エラー信号、 及び、 フォ ーカス . サーボコ ン ト 口 ールが行われるに際しての、 光学へッ ドからの光ビームのデイ ス クにおける記録面部上での集束状態に関する検出出力、 即ち、 フ オーカス · エラー信号は、 通常、 光学へッ ドからの光ビームがデ イ スクに入射せしめられ、 ディ スクで変調されて得られる読取光 ビームが、 光検出部を形成する複数の光検出素子で検出され、 各 光検出素子から得られる検出信号が信号処理部で演箕さ 'れるべく 構成される読取系から、 情報信号の読取出力、 即ち、 読取情報信 号と共に得られるようにされるこ とが多い。 そして、 光検出部及 び信号処理部を含む読取系から得られる トラ ッキング ' エラー信 号あるいはフォーカス . ヱラ一信号に基づき、 光学へッ ドの全体 あるいは光学へッ ドにおける集束レンズ等の部材をディ スクの半 径方向あるいは回転軸方向に移動させる駆動手段に対するコ ン ト ロール信号が形成されて、 各駆動手.段に供給され、 光学へッ ドの 全体あるいは光学へッ ドにおける集束レンズ等の部材が移動せし められる。 [0007] このよう にして、 ディ スクプレーヤにより、 ト ラ ッキング · サ 一ボコ ン ト ロール及びフォーカス · サーボコ ン ト ロールが行われ るもとで、 ディスクに形成された螺旋状ト ラ ッ クから情報信号が 再生されるにあたり、 ディ スクの外表面や螺旋状 ト ラ ッ クが形成 された記錄面部等に汚れや傷等の欠陥がある場合には、 その欠陥 が光学へッ ドからの光ビームにより読み取られて、 光検出部を形 成する複数の光検出素子の検出信号中に欠陥による変化が生じる。 そして、 複数の光検出素子の検出信号中におけるディ ス ク の欠陥 に起因する変化は、 例えば、 複数の光検出素子の検出信号の演算 が行われる信号処理部から得られる読取情報信号中に信号欠落部 を生ぜしめるとともに、 同じ く信号処理部から得られる ト ラ ツキ ング · エラー信号及びフ ォ ーカ ス · エラー信号中に比較的大なる パルスノ イ ズを生ぜしめる。 即ち、 ディ スクにおける欠陥が、 読 取情報信号中における信号欠落部、 及び、 ト ラ ッキング · ヱラー 信号及びフ ォ ーカ ス · エラー信号中における比較的大なるパルス ノ ィ ズとして現れるのである。 [0008] 斯かるディ スクの欠陥に起因して ト ラ ッキング ' エラー信号も し く はフ ォ ーカ ス ' エラー信号に含まれる比較的大なるパルスノ ィ ズは、 光学へッ ドの全体あるいは光学へッ ドにおける集束レ ン ズ等の部材をディ スクの半径方向あるいは回転軸方向に移動させ る駆動手段に対するコ ン ト 口ール信号に異常なレベル値をとらせ ることになる。 そして、 異常なレベル値をとるコ ン ト ロ ール信号 が駆動手段に供袷されると、 光学へッ ドの全体あるいは光学へッ ドにおける集束レンズ等の部材が異常な移動を行わしめられ、 適 正な ト ラ ッキング · サ一ボコ ン ト ロ ールあるいはフ ォ ーカ ス · サ ーボコ ン ト ロールがなされな く なってしまう虞がある。 即ち、 デ イ スクにおける欠陥が読み取られる状態では、 ト ラ ッキング ' サ 一ボコ ン ト ロ ールあるいはフ ォ ーカ ス · サーボコ ン ト ロ ールが正 常に作動しなく なる事態が生じ易いのである。 [0009] このようなディ スクにおける欠陥に起因して ト ラ ッキング ' サ -ボコ ン ト ロールあるいはフ ォ ーカ ス ♦ サーボコ ン ト ロールに生 じる支障を回避すべく 、 従来、 ディ ス ク プレーヤの光検出部及び 信号処理部を含む読取系において、 ディ スクの欠陥が読み取られ たことを検出する欠陥検出を行い、 欠陥検出出力が得られるとき には、 ト ラ ッキ ング · サーボコ ン ト ロール及びフォーカス · サー ボコ ン ト口ールが異常な状態になることを防止する対策がとられ るようになすことが提案されている。 斯かる場合における欠陥検 出は、 例えば、 読取系における信号処理部から得られる読取情報 信号に基づいて次の如く に行われる。 [0010] ディ スクにおける欠陥が読み取られるときには、 第 1図 Aに示 される如く 、 読取情報信号 S ' i に、 欠蹄の読取幅に応じた信号欠 落部 dが現れる。 通常、 光学ディ スクにおける欠陥は、 ディ スク に形成された螺旋状 ト ラ ックの複数周に亙るものとなるので、 信 号欠落部 dは、 欠陥の規模に対応した或る期間においてディ スク の 1 回転毎に現れる。 この信号欠落部 dを含むものとなる読取情 報信号 S i がェ ンベロープ検出部に供給され、 エ ンベロープ検出 部から、 第 1図 Bに示される如く の、 読取情報信号 S i のェンべ ロープに対応する電圧レベルを有する出力信号 S vが得られるよ うにされる。 この出力信号 S vは、 読取情報信号 S i に含まれる 信号欠落部 dに対応した低レベル部 d ' を有するものとなる。 次 に、 出力信号 S Vのレベルと第 1図 Bに示される如く の所定の基 準電圧 V 0 とが比較され、 出力信号 S Vのレベルが基準電圧 V 0 以下となる部分、 即ち、 出力信号 S Vにおける低レベル部 d ' に 応じて高レベルをとる、 第 1図 Cに示される如く の、 パルス信号 S pが得られる。 [0011] このようにして得られるパルス信号 S pを、 その最初のものか ら直接に欠陥検出出力とすると、 誤検出を行う ことになる場合を 生じる事態が多々発生する。 そこで、 パルス信号 S pが実際にデ ィ スクの欠陥に起因して発生する場合には、 読取情報信号 S ί に ― 含まれる信号欠落部 d と同様に、 欠陥の規模に対応した或る期間 においてディ スクの 1回転毎に現れるものとなる こ とが利用され、 斯かるパルス信号 S pが所定の積分時定数を有する積分回路部に 供給されて、 積分回路部の出力レベルが予め設定された電圧レべ ル以上となるとき、 それ以後の各パルス信号 S p に応じて欠陥検 出出力が得られるようにされる。 [0012] 上述の如く にして、 ディ スクの欠陥が読み取られたことを検出 する欠陥検出を行う従来の欠陥検出部は、 積分回路部等を含む回 路構成をもって形成され、 ディ スクの各 1 回転期間内にディ スク における欠陥部が読み取られて上述のパルス信号 S pが得られた 以後に欠陥検出出力が形成されるようになされるので、 欠 Pfe検出 出力の送出に、 実際に欠陥が読み取られる時点に対する時間遅れ を生じる こ とになり、 その結果、 ト ラ ッキ ング ' サーボコ ン ト 口 ール及びフォーカス · サーボコ ン ト ロールにおける、 ディ スクの 欠陥が読み取られる際における対処が、 効果的になされなく なる 事態をまねく という問題を伴っている。 また、 このよう に欠陥検 出出力が時間的精度良く得られない虞があるとともに、 パルス信 号 S pに応じて欠陥検出出力を得るこ とにおける確実性も良好と はいえない状況にある。 [0013] 発明の開示 [0014] 斯かる点に鑑み、 この発明は、 ディ スク状記録媒体における螺 旋状 ト ラ ックに記録された情報の読取りがなされるに際して、 デ イ スク状記録媒体の内部あるいは表面部に存在するものとされた 欠陥部が読み取られるとき、 確実に、 しかも、 時間遅れを伴う こ とな く 、 良好な時間的精度をもって欠陥検出信号が得られるよう にされた、 ディ スク状記録媒体の欠陥検出装置を提供することを 目的とする。 このような目的を達成すベく 、 この発明に係るディ スク状記錄 媒体の欠陥検出装置は、 第 2図にその基本構成が示される如く 、 ディスク状記録媒体における欠陥部が読み取られたとき得られる 入力パルス S p の周期を計測する周期検出手段 1 と、 周期検出手 段 1 により検出された周期より所定の時間だけ短かい期間を設定 する期間設定手段 2 と、 周期検出手段 1 による入力パルス S p の 周期の検出がなされる時点もし く はそれ以後に到来する入力パル ス S p の前緣時点から期間設定手段 2 により設定された期間に対 応する時間が経過した時点を、 出力パルス S dの前緣時点として 設定するパルス前緣設定手段 3 と、 パルス前緣設定手段 3 により 設定された出カバルス S dの前緣時点以後における入力パルス S Pの後緣時点、 もしく は、 パルス前緣設定手段 3 により設定され た出力パルス S dの前緣時点から所定の時間が経過した後の時点 を、 出力パルス S dの後緣時点として設定するパルス後緣設定手 段 4 、 パルス前緣設定手段 3により設定された時点からパルス後 縁設定手段 4に設定された時点までのパルス幅を有する出力バル ス S dを形成し、 その出カバルス S dをデ ィ ス ク状記録媒体につ いての欠陥検出信号として送出する出力パルス発生手段 5 とを具 備して構成される。 [0015] このように構成されるこの発明に係るディスク状記録媒体の欠 陥検出装置においては、 入カバルス S pが供給されるとき、 先ず、 周期検出手段 1 によ って入力パルス S p の周期が計測され、 次に、 期間設定手段 2により、 周期検出手段 1 によって計測された入力 パルス S p の周期より所定の短時間だけ短かい期間が設定される。 さらに、 パルス前緣設定手段 3により、 周期検出手段 1 による入 力パルス S p の周期の検出がなされる時点もし く はそれ以後に供 給される入力パルス S pの前緣時点から期間設定手段 2により設 定された期間に対応する時間が経過した時点が、 出力パルス S d の前緣時点として設定され、 また、 パルス後緣設定手段 4により、 パルス前緣設定手段 3により出カバルス S dの前緣時点として設 定された時点後における最初の入力パルス S p の後緣の時点、 も し く は、 パルス前緣設定手段 3により出力パルス S dの前緣の時 点として設定された時点から所定の時間を経過した時点が、 出力 パルス S dの後緣時点として設定される。 そして、 出力パルス発 生手段 5が、 パルス前緣設定手段 3により出力パルス S dの前緣 の時点として設定された時点において出力パルス S dの前緣を形 成するとともに、 パルス後緣設定手段 4により出力パルス S d の 後緣時点として設定された時点において出力パルス S dの後緣を 形成して出力パルス S dを発生させ、 この出力パルス S dが欠陥 '検出信号として送出される。 [0016] このため、 欠陥検出信号とされる出力パルス S d は、 入力パル ス S p の前緣に先立つ前緣を有し、 その入カバルス S p の後緣の 時点もしく はそれ以後の時点に後緣を有するものとされ、 デイ ス ク状記録媒体の内部あるいは表面部に存在するものとされた欠陥 部が読み取られるとき、 時間遅れを伴う こ とな く 、 しかも、 確実 に送出される。 即ち、 ディスク状記録媒体における欠陥部が読み 取られる状態において、 欠陥検出信号が、 良好な時間的精度をも つて確実に得られることになる。 [0017] 従って、 この究明に係るディ スク状記録媒体の欠陥検出装置に より得られる欠陥検出信号に基づいて、 ディ スクプレーヤの ト ラ ッキング · サーボコ ン ト ロールも し く はフォ ーカス · サーボコ ン ト ロールにおける、 ディ スクの欠陥部が読み取られる状態に際し ての対処が行われるようにされる場合には、 その対処が適切なタ ィ ミ ングをもって効果的になされ、 ディ スクの欠陥部が読み取ら れる状態においても、 ト ラ ッキング · サーボコ ン ト ロールも し く はフォ ーカス · サーボコ ン ト ロールが安定に保たれる こ とになる。 [0018] 図面の簡単な説明 [0019] 第 1図 A , B及び Cはデイ スクにおける欠陥部が読み取られる 状態の説明に供される波形図、 第 2図はこの発明に係るディスク 状,記録媒体の欠陥検出装置の基本構成を示す図、 第 3図はこの発 明に係るディ スク状記録媒体の欠陥検出装置の一例が適用された ディスクプレーヤの要部を示す構成図、 第 4図は第 3図に示され る'この発明.に係るデイ スク状記録媒体の欠陷検出装置の一例の動 作説明に供されるタイ ムチヤ一 ト、 第 5図は第 3図に示されるこ の発明に係るディ スク状記録媒体の欠陥検出装置の一例がマイ ク ロコ ンピュータにより構成された場合において、 そのマイ ク ロコ ンビュータが実行するプログラムの一例を示すフローチ ャ ー ト、 である。 [0020] 発明を実施するための最良の形態 [0021] 第 3図は、 この発明に係るディ スク状記録媒体の欠陥検出装置 の一例を、 それが適用されたディ スクプレ一ャの要部とともに示 す。 このディ スクプレーヤは、 前述された如く の、 光学 のディ スクの記録面部における螺旋状 トラ ックに記録された情報信号を 再生するものとされている。 [0022] 第 3図において、 ディ スクプレーヤに設けられた光検出部 1 0 を形成する 4個の光検出素子 1 0 a , 1 0 b , 1 0 c及び 1 0 d には、 図示されない光学へッ ド内に設けられた対物レンズを介し て、 線速一定の状態で面転せしめられるディ スクに入射せしめら れてディ スクの記錄面部で変調を受けた読取光ビームが導かれ、 これら光検出素子 1 0 a〜 l 0 d上に、 読取光ビームによるスポ ッ トが形成される。 光検出素子 1 0 a〜 1 0 dの夫々からは、 各 々における読取光ビームによるスポ ッ トに応じた出力 I a , I b , I c及び I dが得られ、 それらが、 光検出邬 1 0 と共に情報読取 系を形成する信号処理部 1 2 に供給される。 信号処理部 1 2 にお いては、 これら出力 I a 〜 I dについて 演算がなされて、 螺旋 状 ト ラ ックに記録された情報信号の読取出力である読取情報信号 S i が得られるとともに、 光学へッ ドからの光ビームがディ スク において形成するスボッ トの螺旋状 ト ラ ックに対する位置ずれに 応じた トラ ッキング · エラー信号 S t 、 及び、 光学へッ ドからの 光ビームのディ スクにおける記録面部上での集束状態に応じたフ オーカス * エラー信号 S f が得られる。 [0023] 読取情報信号 S i は、 情報信号再生部 1 4 に供給され、 情報信- 号再生部 1 4から再生された情報信号 S aが得られて、 出力端子 1 5 に導出される。 さ らに、 読取情報信号 S 〖 は、 エ ンベロープ 検出部 1 6 にも供給され、 エ ンベロープ検出部 1 6から、 読取情 報信号 S i のエ ンベロープに対応する電圧レベルを有した出力信 号 S vが得られる。 この出力信号 S vが、 一方の入力端子に電圧 源 1 7からの基準電圧 V 0が印加されたレベル比較部 1 8 の他方 の入力端子に供給され、 レベル比較部 1 8からは、 出力信号 S v の レベルが基準電圧 V 0 より小であるとき高レベルをとるパルス 信号 S pが得られる。 そして、 このパルス信号 S p力 、 欠陥検出 部 2 0 に供給される。 [0024] 欠陥検出部 2 0 は、 この発明に係るディ スク状記録媒体の欠陥 検出装置の一例を構成するものであり、 パルス信号 S pを入カバ ルスとして、 後述される如く に、 ディ スクにおける欠陥部が読み 取られる状態に応じた欠陥検出信号としての出力パルス S dを発 生する。 欠陥検出部 2 0から得られる出力パルス S d は、 ト ラ ッ キ ング · サーボコ ン ト ロール部におけるスィ ツチ 3 0及びフ ォ ー カス · サーボコ ン ト ロール部におけるスィ ツチ 3 2に供耠される。 一方、 信号処理部 1 2から得られる トラ ッキング · エラ一信号 S t及びフォ ーカス ' エラー信号 S f は、 夫々、 レベル調整用可 変抵抗 2 2及び 2 4を介して、 スィ ッチ 3 0及び 3 2における一 方の選択接点 3 0 a及び 3 2 a に供袷される。 また、 レベル調整 用可変抵抗 2· 2を介して得られる ト ラ ッキ ング ' エラ一信号 S t が、 コ ンデンサ 2 6 a及び抵抗 2 6 bからなる ト ラ ッキ ング · コ ン トロール用の欠陥対策信号形成部 2 6に供給され、 欠陥対策信 号形成部 2 6において ト ラ ッキング ' エラー信号 S t に準ずるも のとして形成される欠陥対策信号 S t ' が、 スィ ッチ 3 0 におけ る他方の選択接点 3 0 bに供給される。 さらに、 レベル調整用可 変抵抗 2 を介して得られるフォーカス · エラ一信号 S f が、 コ ンデンサ 2 8 a及び抵抗 2 8 bから成るフォ ーカス · コ ン ト ロー ル用の欠陥対策信号形成部 2 8に供袷され、 欠陥対策信号形成部 2 8においてフォーカス · エラー信号 S f に準ずるものとして形 成される欠陥対策信号 S f ' が、 スィ ッチ 3 2における他方の選 択接点 3 2 b に供給される。 [0025] スィ ッチ 3 0 は、 欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得ら れないとき、 その可動接点 3 0 cが選択接点 3 0 aに接続されて、 可動接点 3 0 c に ト ラ ッキング · エラ一信号 S t が得られる状態 がとられ、 一方、 欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得られ るとき、 その可動接点 3 0 cが選択接点 3 0 に接続されて、 可 動接点 3 0 cに、 ト ラ ッキング · エラ一信号 S t に代えて、 欠陥 対策信号 S t ' が得られる扰態がとられるものとされている。 ま た、 スィ ツチ 3 2 は、 欠陥検出部 2 0からの出カバルス S dが得 られないとき、 その可動接点 3 2 cが選択接点 3 2 aに接続され て、 可動接点 3 2 c にフォーカス * エラー信号 S f が得られる状 態がとられ、 一方、 欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得ら れるとき、 その可動接点 3 2 cが選択接点 3 2 bに接続されて、 可動接点 3 2 c に、 フ ォ ーカス · エラー信号 S f に代えて、 欠陥 対策信号 S f ' が得られる状態がとられるものとされている。 [0026] そして、 スィ ツチ 3 0から得られる ト ラ ッキング · エラー信号 S t もしく は欠陥対策信号 S t ' が ト ラ ッ キ ング ' コ ン ト ロ ール 信号形成部 3 4 に供給され、 ト ラ ッ キ ング ' コ ン ト ロ ール信号形 成部 3 4 から、 ト ラ ッ キ ング ' エ ラ一信号 S t も し く は欠陥対策 信号 S t ' に基づく コ ン ト ロ ール信号 C t が得られて、 トラ ツキ ング . コ ン ト ロ ール用躯動コ イ ル 4 0 に供給される。 その結果、 ト ラ ッ キ ング . コ ン ト ロ ール用駆動コ イ ル 4 0 によ り 、 光学へッ ド全体もし く は光学へッ ド内の対物レ ンズ等の光学部材が、 ディ ス ク の半径方向に、 コ ン ト ロール信号 c t に応じて移動せしめら れ、 ト ラ ッキング ' サーボコ ン ト ロ ール状態がとられる。 同様に、 ス ィ ツ チ 3 2から得られるフ ォ ーカ ス · エ ラ ー信号 S f も し く は 欠陥対策信号 S f ' がフ ォ ーカ ス · コ ン ト口ール信号形成部 3 6 に供袷され、 フ ォ ーカ ス ' コ ン ト ロ ール信号形成部 3 6から、 フ ォ —カス . ヱラー信号 S f もし く は欠陥対策信号 S f ' に基づく コ ン ト ロール信号 c f が得られて、 フ ォ ーカス · コ ン ト ロール用 駆動コ イ ル 4 2 に供給される。 その結果、 フ ォ ーカ ス · コ ン ト 口 ール用駆動コィル 4 2 により、 光学へッ ド全体もし く は光学へッ ド内の対物レ ンズ等の光学部材が、 デ ィ ス ク の回転軸方向に、 コ ン ト ロ ール信号 C ί に応じて移動せしめられ、 フ ォ ーカ ス · サー ボコ ン ト 口ール状態がとられる。 [0027] 上述の如く に読取系、 情報信号再生系、 ト ラ ッ キ ング · コ ン ト ロール系及びフ ォ ーカ ス · コ ン ト ロ ール系が備えられた構成のも とに、 この発明に係るディ スク状記録媒体の欠陥検出装置の一例 W [0028] 1 2 [0029] を構成する欠陥検出部 2 0 による、 ディスクにおける欠陥部が読 み取られる状態を検出する動作、 即ち、 欠陥検出動作が行われる。 ディ スクに欠陥部がある場合には、 光学へッ ドからの光ビーム によりディ スクの欠陥部が走査されて欠陥.部の読取りがなされる とき、 信号処理部 1 2から得られる読取情報信号 S i には、 前述 の第 1図 Aに示される如く に、 欠陥の規模に応じた信号欠落部 d が、 ディ スクの 1 回転毎にあらわれる。 斯かる信号欠落部 dが生 じた読取情報信号 S i が供給されるヱ ンべロープ検出部 1 6から は、 第 1図 Bに示される如く の、 読取情報信号 S i に含まれる信 号欠落部 dに対応する低レベル部 d ' を有した出力信号 S Vが得 られる。 そして、 このエ ンベロープ検出部 1 6からの出力信号 S - Vのレベルが基準電圧 V 0 と比較される レベル比較部 1 8からは、 第 1図 Cに示される如く の、 出力信号 S vのレベルが基準電圧 V 0 より小であるとき、 従って、 読取情報信号 S i に含まれる信号 欠落部 dに対応する期間に高レベルをとるパルス信号 S pが得ら れて、 欠陥検出部 2 0 に供給される。 [0030] 従って、 欠陥検出部 2 0 には、 読取情報信号 S i に含まれる信 号欠落部 dに対応する期間に得られる、 従って、 ディ スクにおけ る欠陥部が読み取られたとき得られるバルス信号 S pが、 入カバ ルスとして供給されることになる。 そして、 欠陥検出部 2 0 にお いては、 例えば、 以下の如く にして欠陥検出動作が行われ、 欠陥 検出信号としての出力パルス S dが送出される。 [0031] ディ スクの欠陥部における読取りがなされる状態においては、 第 4図に示される如く 、 上述のパルス信号 S pが欠陥検出部 2 0 にデイ スクの 1 回転毎に供給される。 欠陥検出部 2 0 においては 、 先ず、 1番目のパルス信号 S p の前緣である立上りの時点 t ! から 2番巨のパルス信号 S の前緣である立上りの時点 t 2 まで の期間、 即ち、 周期 が測定され、 続いて、 2番目のパルス信 号 S p の立上りの時点 t 2 から 3番目のパルス信号 S p の前緣で ある立上りの時点 t 3 までの期間、 即ち、 周期 T 2 が測定される。 さらに、 その後、 4番目〜 X - 1番目のバルス信号 S pの到来に 応じて、 各周期 T 3, T 4, * ♦ · Ύ κ- ζ が順次測定される。 [0032] 一方、 第 4図に示される如く 、 周期 T t の測定後に、 2番目の パルス信号 S p の立上りの時点 t 2 から周期 より短時間 αだ け短い期間 Τ , - αが柽過した後の時点に前緣である立上りを有 し、 それから、 パルス信号 S p の蝎より長い、 予め定められた所 定の時間 T c後に後縁を有する予測パルス P t が形成され、 また、 周期 T z の測定後に、 3番目のバルス信号 S p の立上りの時点 t 3 から周期 T 2 より短時間 αだけ短い期間 Τ 2 - αが経過した後の 時点に立上りを有し、 それから所定の時間 T c後に後緣を有する 予測パルス Ρ 2 が形成され、 さ らに、 同様にして、 期間 Τ 3 - a に関連する予測パルス Ρ 3 から期間 Τ - 2 - αに関連する予測パ ルス Ρ χ-2 までが夫々形成される。 これら予測パルス 〜 P x-2 は、 夫々、 測定された周期 〜 T x-2 に対してそれらより短時 間 だけ短い期間 — or〜 T x-2 — orを設定する ものであり、 夫々の前緣である立上り は、 対応する 3番目〜 X — 1番目のパル ス信号 S の夫々 の立上り に先立つものとなる。 [0033] また、 これとともに、 周期 と周期 T 2 とが比較されて両者 が等しいとき、 レベル比較部 1 8からのパルス信号 S ρ力く、 ディ スク の欠陥部に起因する ものであると判断される。 即ち、 パルス 信号 S ρ の真偽が確認されるのである。 そして、 周期 と周期 Τ ζ とが等しい場合には、 第 4図に示される如く に、 3番目のパ ルス信号 S の立上りの時点 t 3 に立ち上がって高レベルをとり 、 その高レベルを、 予測パルス 〜 P X-Z の う ちの最後のもの P x - 2 の立下りの時点 t x まで維持し、 時点 t x で立ち下がるゥ ィ ン ドウ信号 S wが形成される。 [0034] このようにウ ィ ン ドウ信号 S wが形成される もとで、 ウィ ン ド ゥ信号 S wが高レベルにあるもとにおける予測パルス P i 〜 P x - 2 の夫々 の立上り の時点が、 出力パルス S dの前緣時点として設定 され、 また、 斯かる前緣時点の各々の後最初に到来するパルス信 号 S p の夫々 の立下りの時点もし く は予測パルス P x - 2 の立下り の時点が、 出力パルス S dの後緣時点として設定される。 そして、 第 4図に示される如く 、 このようにして設定される前緣時点と後 縁時点とにおいて、 未々前緣である立上り及び後緣である立下り を有するものとなる、 出力パルス S dが形成される。 [0035] —方、 周期 と周期 T 2 とが異なるものである場合には、 レ ベル比較部 1 8からのパルス信号 S ρが、 ディスクの欠陥部に起 因する ものではないと判断されて、 ウィ ン ドウ信号 S wの形成ほ 成されず、 その結果、 出力パルス S dは形成されない。 その後、 周期 T 2 と周期 Τ 3 の組、 周期 Τ 3 と周期 Τ 4 の組、 · · · とい うように連続して測定されるパルス信号 S ρ の周期が等しいもの となったときは、 その時点から上述の周期 T t と周期 Τ 2 とが等 しい場合と同等な動作が行われて、 出力パルス S dが形成される。 このよう にして形成された出力パルス S dが欠陥検出信号とし て送出されるが、 斯かる出力パルス S d は、 パルス信号 S p の前 緣の先立つ前緣を有し、 かつ、 その最後のものを除いて、 出力パ ルス S dに対応して得られるものであり、 従って、 それらはディ ス ク の各 1 回転の期間において、 ディ スクにおける欠陥部が読み 取られる状態を、 時間遅れなく 、 確実にあらわすものとなる。 [0036] このため、 このよう にして欠陥検出部 2 0 から送出される出力 パルス S dによって制御されるスィ ツチ 3 0及び 3 2 により、 デ W [0037] 1 5 [0038] イ スクにおける欠陥部が読み取られる状態に際して、 適切なタイ ミ ングをもって、 ト ラ ッキ ング ' コ ン ト 口ール信号形成部 3 4及 びフォ ーカス ' コ ン ト ロール信号形成部 3 6 に、 そのとき異常な レベルを有するものとされる ト ラ ッキング · エラー信号 S t及び フォーカス . ヱラー信号 S f に代えて、 欠陥対策信号 S t ' 及び S f * が夫々供給されることになり、 トラ ッキング ' サーボコ ン トロール及びフォーカス · サーボコ ン ト ロールが安定に保たれる。 上述の如く の欠陥検出動作を行う欠陥検出部 2 0 は、 例えば、 マイ ク ロコ ンピュータが用いられて構成される。 斯かるマイ ク 口 コ ンビュー夕が用いられて構成された欠陥検出部 2 0の例におい てマイ ク ロコ ンピュータが実行するプログラムの一例を、 第 5図 に示されるフローチャー トを参照して説明する。 [0039] このプログラムにおいては、 スター ト後、 プロセス 1 0 1 で初 期設定を行い、 パルス信号 S p にづいての周期性検出状態か否か を判別するためのモ ー ドフラ ッグ M、 及び、 パルス信号 S p の到 来状態か否かを判別するためのモー ドフラ ッグ Fを夫々 0 と し、 また、 パルス信号 S p の周期を測定するための周期カ ウ ン ト値 C nを 0 に設定し、 さ らに、 予測パルス 〜 P X - 2 のパルス幅を 定める時間 T cに対応する期間カウ ン ト値 C cを設定する。 そし て、 デイ シジョ ン 1 0 2 において、 パルス信号 S p の前緣である 立上りが到来したか否かを判断し、 パルス信号 S p の立上りが到 来していないときには、 このディ シジョ ン 1 0 2 における判断を 繰り返して行い、 一方、 パルス信号 S p の立上りが到来したとき には、 プロセス 1 0 3 に進んでカウ ン トク ロ ック K cを発生させ、 さ らに、 プロセス 1 0 4に進んで、 周期カウ ン ト値 C n (最初は 0 ) をカウ ン トクロ ック K cに応じて 1 だけ増加させる。 [0040] 次に、 デイ シジョ ン 1 0 5 において、 モー ドフラ ッグ Mが 1 か 否かを判断し、 モー ドフラ ッグ Mが 1 でない場合には、 パルス信 号 S p についての周期性検出状態であるとして、 デイ シジョ ン 1 0 6 に進む。 デイ シジョ ン 1 0 6 においては、 パルス信号 S p の 立上り到来時か.否かを判断し、 パルス信号 S p の立上り到来時で あると判断された場合には、 デイ シジョ ン 1 0 7に進む。 そして、 デイ シジョ ン 1 0 7において、 周期カウ ン ト値 C nと前回のパル ス信号 S p の立上り到来時における周期力ゥ ン ト値 C n 1 とが略 一致しているか否かを判断し、 周期カウ ン ト値 C n と周期カウ ン ト値 C n - t とが一致していない場合には、 パルス信号 S pが周期 性を有していないとして、 プロセス 1 0 8 に進み、 期間カウ ン ト 値 C mを、 周期カ ウ ン ト値 C nから一定の短時間 'に相当する値 C aを減算することにより設定する。 続いて、 プロセス 1 0 9 に 進み、 周期カウ ン ト値 C ηを周期カウ ン ト値 C として設定し た後、 周期カウ ン ト値 C ηを 0 にして、 プロセス 1 0 4 に戻り、 周期カ ウ ン ト値 C ηをカウ ン ト ク ロ ッ ク K c に応じて 1 だけ増加 させる動作、 及び、 デイ シジョ ン 1 0 5 における判断を操り返す。 [0041] これに対し、 デイ シジョ ン 1 0 6において、 ノ、'ルス信号 S ρ の 立上り到来時ではないと判断された場合には、 プロセス 1 1 0に おいてプロセス 1 0 8で設定された期間力ゥ ン ト値 C mを、 プロ セス 1 0 3で発生伏態とされたカウ ン トク ロ ック K c に応じて 1 だけ減少させ、 デイ シジョ ン 1 1 1 に進む。 デイ シジョ ン 1 1 1 においては、 期間カウ ン ト値 C mが 0 になったか否かを判断し、 期間カウ ン ト値 C mが 0 になっていない場合には、 プロセス 1 0 に戻る。 また、 デイ シジョ ン 1 1 1 において、 期間力ゥ ン ト値 C mが 0 になったと判断された場合には、 パルス信号 S p の立上 りの時点から期間力ゥ ン ト値 C mに対応する期間が経過した時点 が到来したことになるので、 プロセス 1 1 2 に進み、 予測パルス P t 〜 P x - 2 のいずれかを発生させて、 プロセス 1 0 4に戻る。 また、 デイ シジョ ン 1 0 7での判断の結果、 周期カウ ン ト値 C n と周期カウ ン ト値 C η - , とが略一致している場合には、 パルス 信号 S pが周期性を有しているとして、 プロセス 1 1 3 に進み、 ウ イ ン ドウ信号 S wの高レベルへの立上りを形成してモ ー ドフ ラ ッグ Mを 1 にした後、 プロセス 1 1 4に進む。 プロセス 1 1 4に おいては、 期間カ ウ ン ト値 C mを、 周期カ ウ ン ト値 C nから一定 の短時間 αに相当する値 C aを減算することにより設定するとと もに、 周期カウ ン ト値 C nを 0 に戻して、 プロセス 1 0 4に戻る。 一方、 デイ シジョ ン 1 0 5 において、 モー ドフラ ッグ M力 1で あると判断された場合には、 パルス信号 S p についての周期性検 出によりパルス信号 S pが周期性を有していることが確認された 状態にある と して、 デ イ シジ ョ ン 1 1 5 に進み、 出力パルス S d が送出されている状態か否かを判断する。 デイ シジ ョ ン 1 1 5で の判断の結果、 出力パルス S dが送出されていない状態である場 合には、 プロセス 1 1 6において、 プロセス 1 1 4 もし く は後述 されるプロセス 1 2 2で設定された期間カウ ン ト値 C mを、 プロ セス 1 0 3で発生状態とされたカウ ン トク ロ ック K c に応じて 1 だけ減少させ、 デイ シジ ョ ン 1 1 7 に進む。 デイ シジ ョ ン 1 1 7 においては、 期間力ゥ ン ト値 C mが 0 になったか否かを判断し、 期間カ ウ ン ト値 C mが 0 になっていない場合には、 プロセス 1 0 4に戻る。 また、 デイ シジョ ン 1 1 7 において、 期間カウ ン ト値 C mが 0 になったと判断された場合には、 パルス信号 S p の立上 りの時点から期間力ゥ ン ト値 C mに対応する期間が経過した時点 が到来したことになるので、 プロセス 1 1 8 に進み、 予測パルス P , 〜 P X— 2 のいずれかを発生させて、 その立上り時点を出カバ ルス S dの前緣時点として設定し、 続いて、 プロ セス 1 1 9 に進 んで、 プロセス 1 1 8で設定された前緣時点において立ち上がつ て高レベルをとる出力パルス S dの形成を開始し、 形成過程の出 力パルス S dを送出して、 プロセス 1 0 4に戻る。 [0042] デイ シジョ ン 1 1 5 において、 出力パルス S dが送出中である と判断された場合には、 デイ シジ ョ ン 1 2 0 に進み、 パルス信号 S p の立上り到来時か否かを判断する。 そして、 デイ シジ ョ ン 1 2 0 において、 パルス信号 S p の立上り到来時であると判断され た場合には、 プロセス 1 2 1 に進んでモー ドフラ ッグ Fを 1 に設 定した後、 プ セス 1 2—2 に進む。 そして、 プロセス 1 2 2 にお いて、 期間カ ウ ン ト値 C mを、 周期カ ウ ン ト値 C nから一定の短 時間 に相当する値 C aを減算することにより設定した後、 周期 カウン ト値 C nを 0にして、 プロセス 1 0 4に戻る。 [0043] 一方、 ディ シジ ョ ン 1 2 0 において、 パルス信号 S p の立上り 到来時ではないと判断された場合には、 ディ シジ ョ ン 1 2 4に進 み、 パルス信号 S p の立下り到来時か否かを判断する。 そして、 デイ シジ ョ ン 1 2 4において、 パルス信号 S p の立下り到来時で はないと判断された場合には、 プロセス 1 2 5 において、 プロセ ス 1 2 2 で設定された期間カ ウ ン ト値 C mを、 プロセス 1 0 3 で 発生状態とされたカ ウ ン トク ロ ック K cに応じて 1 だけ減少させ、 さらに、 プロ セス 1 2 6において、 初期設定された期間力ゥ ン ト 値 C cを、 プロセス 1 0 3で発生状態とされたカ ウ ン トクロ ック K c に応じて 1 だけ減少させて、 デイ シジ ョ ン 1 2 7に進む。 デ イ シジョ ン 1 2 7においては、 期間カウ ン ト値 C cが 0 になった か否かを判断し、 期間カウ ン ト値 C cが 0 になつていない場合に は、 プロセス 1 0 4に戻る。 また、 デイ シジョ ン 1 2 7 において、 期間カ ウ ン ト値 C cが 0 になったと判断された場合には、 バルス 信号 S p の立上りの時点から期間力 ゥ ン ト値 C c に対応する期間 が経過した時点が到来したことになるので、 プロセス 1 2 8 にお いて期間カ ウ ン ト値 C cを再設定した後プロセ ス 1 2 9 に進み、 その時点を出力パルス S dの後緣時点として設定し、 斯かる後緣 時点において出力パルス S dの高レベルから立ち下がる後緣を形 成して、 出力パルス S d の送出を終了させる。 [0044] また、 デ イ シジ ョ ン 1 2 4 において、 パルス信号 S p の立下り 到来時であると判断された場合には、 直ちにプロセス 1 2 9 に進 み、 その時点を出力パルス S dの後緣時点として設定し、 斯かる 後縁時点において出力パルス 3 dの高レベルから立ち下がる後緣 を形成して、 出力パルス S d の送出を終了させる。 [0045] その後、 デイ シジョ ン 1 3 0において、 モー ドフラ ッグ Fが 1 か否かを判断し、 モー ドフラ ッグ Fが 1 であると判断された場合 には、 プロセス 1 3 1 に進み、 モー ドフラ ッグ Fを 0 にした後、' プロセズ 1 0 4に戻る。 また、 モー ドフラ ッグ F力く 1 でないと判 断された場合には、 周期性をもって到来していたパルス信号 S p の最後のものが到来した後の状態であることになるので、 プロセ ス 1 3 2 に進み、 ウ ィ ン ドウ信号 S wの高レベルからの立下りを 形成してモー ドフラ ッグ Mを 0 にし、 その後デイ シジョ ン 1 0 2 民 。 [0046] このようなマイ ク ロコ ンピュータの動作により、 ウイ ン ドウ信 号 S wが高レベルをとる状態にあるもとで、 予測パルス P [0047] P x - z のいずれかの前緣である立上りの時点を前緣時点とし、 そ の後における最初のパルス信号 S p の後緣時点もし く は予測パル ス P x - Z の後緣である立下りの時点を後緣時点とする出カバルス S dが形成されて、 送出されるこ とになる。 [0048] 産業上の利用可能性 [0049] この発明に係るディ スク状記錄媒体の欠陥検出装置は、 デイ ス クプレーヤに広く適用され得るものであり、 上述の例の如く に光 学式のディスクから情報信号を再生するディ スクプレーヤ、 具体 的には、 光学式ディ ジタル ' オーディオ ' ディスクプレーヤや光 学式ビデオ · ディスクプレーヤ等に用いられるに好適であるとと もに、 さらには、 光学式以外の各種のディスクから情報信号を再 生する非光学式デイ スクプレーヤに用いられるに適したものであ る。
权利要求:
Claims請 求 の 範 囲 1. デ ィ ス ク状記録媒体における欠陥部分が読み取られたとき得 られる入力パルスの周期を計測する周期検出手段 ( 1 ) と、 該 周期検出手段 ( 1 ) により検出された周期より所定の時間だけ 短かい期間を設定する期間設定手段 ( 2 ) と、 上記周期検出手 段 ( 1 ) による入力パルスの周期の検出がなされる時点もし く はそれ以後に到来する入力パルスの前緣時点から上記期間設定 手段 ( 2 ) により設定された期間に対応する時間が経過した時 点を、 出力パルスの前緣時点として設定するパルス前緣設定手 段 ( 3 ) と、 該パルス前緣設定手段 ( 3 ) により設定された出- 力パルスの前緣時点以後における入力パルスの後緣時点、 もし く は、 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) により設定された出力パ ルスの前緣時点から所定の時間が柽過した後の時点を、 出力パ ルスの後縁時点として設定するパルス後緣設定手段 ( 4 ) と、 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) により設定された出力パルスの 前緣時点から上記パルス後緣設定手段 ( 4 ) により設定された 出力パルスの後緣時点までのパルス幅を有する出力パルスを形 成し、 該出力パルスを上記ディ スク状記録媒体についての欠陥 検出信号として送出'する出力パルス発生手段 ( 5 ) とを具備し て構成されるデ ィ ス ク状記録媒体の欠陥検出装置。 2. 上記出力パルス発生手段 ( 5 ) 力 上記周期検出手段 ( 1 ) により検出された周期のう ちの連続する 2周期が実質的に相等 しいことが確認された後に、 上記出力パルスを形成して上記欠 陥検出信号として送出することを特徴とする特許請求の範囲第 1項記載のデイ スク状記録媒体の欠陥検出装置。 3. 上記周期検出手段 ( 1 ) により検出された周期のう ちの連続 する 2周期を比較し、 該連続する 2周期が実質的に相等しいこ とが確認された時点以後における入力パルスの前緣時点に前緣 を有し、 該前緣時点後入力パルスの継繞的到来が終了した後の 時点に後緣を有するウ ィ ン ドウ信号を形成するウ ィ ン ドウ信号 形成手段が備えられるとともに、 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) が上記ゥィ ン ドウ信号形成手段からのゥィ ン ドウ信号が得られ ている も とで出力パルスの前緣時点を設定し、 また、 上記パル ス後緣設定手段 ( 4 ) が上記ゥィ ン ドウ信号形成手段からの ゥ - ィ ン ドウ信号が得られているもとで出力パルスの後縁時点を設 . 定することを特徴とする特許請求の範囲第 1項もし く は第 2項 記載のディスク状記録媒体の欠陥検出装置。 4. 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) が、 上記周期検出手段 ( 1 ) による周期の検出がなされた後に到来する入力パルスの前緣時 · 点から上記期間設定手段 ( 2 ) により設定された期間に対応す る時間が経過した時点に前緣を有し、 該前緣から上記入力パル スの幅より長い所定の時間後に後緣を有する予測パルスを発生 して、 該予測パルスの前緣をもつて出力パルスの前緣時点を設 定するこ とを特徴とする特許請求の範囲第 1項, 第 2項も し く は第 3項記載のディ スク状記録媒体の欠陥検出装置。 5. 上記パルス後緣設定手段 ( 4 ) が、 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) によ り得られる予測パルスの前緣時点以後に到来する入 力パルスの後緣時点、 もしく は、 上記予測パルスの後縁時点を もつて出力パルスの後緣時点を設定することを特徴とする特許 請求の範囲第 4項記載のディ スク状記録媒体の欠陥検出装置。 6. 上記出力パルス発生手段 ( 5 ) が、 上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) により得られる予測パルスの前緣時点から該予測パルス の後緣時点、 もし く は、 該予測パルスの前緣時点以後に到来す る入力パルスの後緣時点までのパルス幅を有する出力パルスを 形成することを特徴とする特許請求の範囲第 5項記載のデイ ス ク状記録媒体の欠陥検出装置。
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同族专利:
公开号 | 公开日 EP0254748A1|1988-02-03| DE3783093T2|1993-04-22| KR880701004A|1988-04-13| KR920000399B1|1992-01-13| EP0254748B1|1992-12-16| US4817077A|1989-03-28| DE3783093D1|1993-01-28| EP0254748A4|1991-03-20| JPS62180568A|1987-08-07|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
法律状态:
1987-08-13| AK| Designated states|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): KR US | 1987-08-13| AL| Designated countries for regional patents|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): DE FR GB NL | 1987-09-24| WWE| Wipo information: entry into national phase|Ref document number: 1987901117 Country of ref document: EP | 1988-02-03| WWP| Wipo information: published in national office|Ref document number: 1987901117 Country of ref document: EP | 1992-12-16| WWG| Wipo information: grant in national office|Ref document number: 1987901117 Country of ref document: EP |
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申请号 | 申请日 | 专利标题 JP61/022521||1986-02-04|| JP61022521A|JPS62180568A|1986-02-04|1986-02-04|Defect detecting device for discoid recording medium|KR8770998A| KR920000399B1|1986-02-04|1987-02-03|디스크형 기록매체의 결함 검출장치| DE8787901117A| DE3783093D1|1986-02-04|1987-02-03|Verfahren zum detektieren von defekten plattenfoermiger aufzeichnungsmedien.| DE8787901117T| DE3783093T2|1986-02-04|1987-02-03|Verfahren zum detektieren von defekten plattenfoermiger aufzeichnungsmedien.| 相关专利
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